微區(qū)電化學(xué)掃描材料腐蝕的電化學(xué)測(cè)試方法局限于整個(gè)樣品的宏觀(guān)測(cè)試, 測(cè)試結(jié)果只反映樣品的不同局部位置的整體統(tǒng)計(jì)結(jié)果,不能反映出局部的腐蝕及材料與環(huán)境的作用機(jī)理.為進(jìn)行局部表面科學(xué)研究,系統(tǒng)提供了一個(gè)新的途徑,并日益得到包括局部腐蝕領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用。近年來(lái)，人們一直在探索局部電化學(xué)過(guò)程的研究。一代掃描參比電極技術(shù)能探測(cè)局部腐蝕的發(fā)生。第二代掃描振動(dòng)電極技術(shù)采用振動(dòng)電極測(cè)量局部 隨遠(yuǎn)離被測(cè)電極表面位置的變化。 SVET具有比SRET更高的靈敏度。在SVET和SVET基礎(chǔ)上，又提出了采用掃描Kelvin振動(dòng)電極測(cè)量不同材料表面功函數(shù)。
 

　　微區(qū)電化學(xué)掃描工作原理
 

　　掃描振動(dòng)參比電極系統(tǒng)是利用振動(dòng)電極和鎖相放大器消除微區(qū)掃描中的噪聲干擾,提高測(cè)量精度. SVET系統(tǒng)具有高靈敏度,非破壞性,可進(jìn)行電化學(xué)活性測(cè)量的特點(diǎn).它可進(jìn)行線(xiàn)性或面掃描,研究局部腐蝕(如電蝕和應(yīng)力腐蝕的產(chǎn)生,發(fā)展等),表面涂層及緩蝕劑的評(píng)價(jià)等方面的研究,掃描振動(dòng)探針(SVET)是在液態(tài)腐蝕環(huán)境下,進(jìn)行腐蝕研究的有力工具,它能檢測(cè)小于5uA/cm2的原位腐蝕。
 

　　微區(qū)電化學(xué)掃描工作站在使用時(shí)需了解下面這些注意事項(xiàng)：
 

　　1、儀表接地應(yīng)保證電源插頭接地良好。如果室內(nèi)布線(xiàn)不規(guī)范，接線(xiàn)板上的接地插腳必須連接到嘴附近的鋼制水管上。
 

　　2、打開(kāi)本電化學(xué)工作站時(shí)，首先打開(kāi)計(jì)算機(jī)，然后打開(kāi)電化學(xué)儀器的主機(jī)電源。
 

　　3、準(zhǔn)確連接工作/輔助/參比電極，然后再雙擊打開(kāi)電化學(xué)工作軟件。
 

　　4、儀器的電纜中的工作電極夾與其余兩不能短接，也不要把電極連接線(xiàn)弄濕。平時(shí)儀器不用時(shí)，可以用模擬電解池來(lái)連接。
 

　　5、關(guān)機(jī)時(shí)按照先關(guān)軟件，再關(guān)電腦，后關(guān)電化學(xué)儀主機(jī)順序進(jìn)行。
 

　　微區(qū)電化學(xué)掃描工作站能進(jìn)行交流阻抗測(cè)試，此選項(xiàng)提供了完整的方波發(fā)生器和頻率響應(yīng)分析器安在恒電位儀板上。頻率范圍為10μHz～1MHz，恒電位儀的輸入阻抗為1012Ω(并聯(lián)20pF)。因此，該電化學(xué)工作站適用于腐蝕實(shí)驗(yàn)、電池測(cè)試和層間化合物交流阻抗測(cè)量的研究。采用低電流選項(xiàng)，輸入阻抗增加到1014Ω(并聯(lián)電容器1pf)，非常適合薄膜研究。使用外部擴(kuò)展器，可以測(cè)試設(shè)備的阻抗，即使它低于250微歐姆。