物理吸附分析儀測(cè)試系統(tǒng)度高

　　物理吸附分析儀測(cè)試系統(tǒng)度高
　　
　　由于沒(méi)有工具對(duì)比物理吸附分析儀表面進(jìn)行直接測(cè)量，人們就根據(jù)物理吸附的特點(diǎn)，以已知分子截面積的氣體分子作為探針，創(chuàng)造一定條件，使氣體分子覆蓋于被測(cè)樣品的整個(gè)表面（吸附），通過(guò)被吸附的分子數(shù)目乘以分子截面積即認(rèn)為是樣品的比表面積。比表面積的測(cè)量包括能夠到達(dá)表面的全部氣體，無(wú)論外部還是內(nèi)部。物理吸附一般是弱的可逆吸附，因此固體必須被冷卻到氣體的沸點(diǎn)溫度，并且選擇一種理論方法從單分子覆蓋中計(jì)算表面積。比表面和孔隙度分析儀器就是創(chuàng)造相應(yīng)的條件，實(shí)現(xiàn)復(fù)雜計(jì)算的這樣一種儀器。
　　
　　物理吸附分析儀測(cè)試系統(tǒng)：根據(jù)“國(guó)標(biāo)標(biāo)準(zhǔn)”利用“氦氣”測(cè)試溫區(qū)體積，使測(cè)試精度更高，重復(fù)性更好。另外，也可以通過(guò)“氮?dú)?rdquo;測(cè)試得到溫區(qū)體積(弊端：利用氮?dú)鉁y(cè)試溫區(qū)體積，測(cè)試過(guò)程中可能導(dǎo)致樣品部分孔內(nèi)被氮填充，影響實(shí)驗(yàn)過(guò)程中氮的實(shí)際吸附量，影響測(cè)試精度)。
　　
　　物理吸附分析儀管路通徑：大通徑是高真空的*條件，脫氣位和測(cè)試位采用大通徑閥門和管路，使真空泵的極限真空得到zui大效果的體現(xiàn)。
　　
　　冷阱：脫氣氣路，分析氣路獨(dú)立雙冷阱裝置，除去氣路中的水分、油性物質(zhì)等雜質(zhì)。
　　
　　真空系統(tǒng)：儀器配備兩套獨(dú)立的真空系統(tǒng)，既脫氣系統(tǒng)和分析系統(tǒng)相互獨(dú)立；分析位配備獨(dú)立雙級(jí)機(jī)械真空泵渦輪分子泵，極限真空達(dá)到10-6Pa；三臺(tái)泵組成的兩套獨(dú)立的真空系統(tǒng)即提高了測(cè)試效率，又真正消除了分析與脫氣在同時(shí)進(jìn)行時(shí)之間的相互影響，避免由一套真空系統(tǒng)而帶來(lái)的污染問(wèn)題。